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半導體封裝中銀遷移,怎么辦?

2023-05-18 16:17:55 行業(yè)新聞 2122

半導體封裝中銀遷移,怎么辦?

轉自:導電高研院;作者:CEIA電子智造

 

銀在電導率、穩(wěn)定性方面具有優(yōu)異特性,被廣泛用于電子元器件中的導線和接點,然而在長時間高溫和高電場的環(huán)境下常常出現(xiàn)銀遷移現(xiàn)象,如何緩解銀遷移現(xiàn)象呢?

 

什么是銀遷移

銀遷移(Silver Migration)是指在導體材料中,銀離子由于電場和溫度的作用,沿著導體材料的晶粒邊界或晶界遷移,并在終端位置沉積下來,從而形成導體短路或斷路等失效現(xiàn)象。

銀遷移現(xiàn)象會導致導線的電阻增加,信號失真,最終導致器件失效。具體表現(xiàn)包括:

導線電阻增加:隨著銀遷移現(xiàn)象的發(fā)生,導線中的銀原子會向細節(jié)處移動,導致導線截面積減小,電阻增加,從而降低電路的性能。

信號失真:銀遷移現(xiàn)象的加劇,導線中的銀原子會向接近信號線的區(qū)域移動,導致信號失真和干擾,從而影響電路的正確性和可靠性。

器件失效:長時間的銀遷移現(xiàn)象會導致導線的性能逐漸退化,直到完全失效,從而導致整個器件失效。

 

出現(xiàn)銀遷移的原因

針對銀遷移現(xiàn)象,可采取以下措施進行改善:

01電流密度過大:當電流密度過大時,金屬中的離子受到電場力作用,會向電流方向遷移,導致材料的失衡。對于常規(guī)的厚度為35um的銀線,建議將電流密度限制在2.5x10^4A/cm^2以下。

02溫度過高:在高溫環(huán)境下,金屬材料中的離子能量增加,離子遷移的速度也會隨之增加,進而促使銀遷移現(xiàn)象的發(fā)生。在封裝或連接器件時,溫度通常應控制在不超過150℃的范圍內。

03尺寸效應:金屬線路的尺寸和形狀也會影響銀遷移的發(fā)生。當線路尺寸很小或線路呈現(xiàn)彎曲形狀時,離子遷移的速度更快,因此出現(xiàn)銀遷移現(xiàn)象的概率也會相應增加。

 

解決方案

銀遷移是一個復雜的問題,需要綜合考慮多方面的因素,以下是一些可能的措施:

優(yōu)化材料選擇:可以選擇更加耐高溫和耐腐蝕的材料,如鎢、鉬、銅等。

改善封裝結構:封裝結構設計應該考慮到熱膨脹系數的匹配,以減少熱應力對晶體管引線和銀線的影響。

優(yōu)化工藝參數:通過調整電鍍條件、焊接溫度、時間等參數,可以減少銀遷移的風險。

使用添加劑:向銀線中添加一些元素,如鈀、鉑、金等,可以改善晶體管的可靠性。

采用抗銀遷移工藝:采用抗銀遷移工藝的晶體管可以大幅減少銀遷移的風險。

引入測試環(huán)節(jié):在晶體管生產的不同階段加入測試環(huán)節(jié),以便及時發(fā)現(xiàn)和解決潛在的銀遷移問題。

 

 

免責申明:本文內容轉自:導電高研院;作者:CEIA電子智造。文字、素材、圖片版權等內容屬于原作者,本站轉載內容僅供大家分享學習。如果侵害了原著作人的合法權益,請及時與我們聯(lián)系,我們會安排刪除相關內容。本文內容為原作者觀點,并不代表我們贊同其觀點和(或)對其真實性負責。

 

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