無(wú)鉛BGA焊球重置工藝
無(wú)鉛BGA焊球重置工藝
轉(zhuǎn)自:SMT技術(shù)網(wǎng);作者:韋荔甫 李鵬
摘要:
對(duì)無(wú)鉛BGA焊球重置工藝展開(kāi)研究,通過(guò)試驗(yàn)設(shè)計(jì),對(duì)比分析驗(yàn)證助焊劑的涂敷方式與涂敷量對(duì)BGA焊點(diǎn)高度變化、剪切強(qiáng)度及其可靠性的影響。研究結(jié)果表明:在焊錫球直徑相同的條件下,焊點(diǎn)間距較小的陣列對(duì)助焊劑涂敷量變化較敏感,在液相線以上時(shí)間(TAL)不超過(guò)90s?;亓骱阜逯禍囟葹?45℃時(shí),助焊劑涂敷量對(duì)焊點(diǎn)強(qiáng)度的影響比較明顯,當(dāng)回流焊峰值溫度較高時(shí)(如255℃),其影響不明顯。
關(guān)鍵詞: BGA焊點(diǎn)、助焊劑、涂敷方式、可靠性
00
引言
傳統(tǒng)鉛錫焊料由于含有對(duì)人體及環(huán)境危害嚴(yán)重的鉛,如今已被無(wú)鉛焊料所取代,Sn-Ag-Cu是目前常用的一類(lèi)無(wú)鉛焊料。在大容量引腳封裝上有著極強(qiáng)生命力和競(jìng)爭(zhēng)力的無(wú)鉛BGA,因回流工藝與材料的差異,其熔點(diǎn)溫度和焊劑成分也隨之而改變,造成焊接工藝參數(shù)上發(fā)生了改變,這使得單個(gè)器件在實(shí)際應(yīng)用中的價(jià)格并不便宜。因此在預(yù)研產(chǎn)品試驗(yàn)時(shí),往往希望把所有從基板上取下的BGA器件能重新植球,再利用。BGA植球時(shí),根據(jù)BGA返修工藝要求,應(yīng)先在焊盤(pán)上涂一層助焊劑,再植球,以便減少焊盤(pán)和焊球上的氧化物;使用BGA時(shí),為得到良好的熔濕性和焊點(diǎn)完整性,也必須在焊盤(pán)上涂一層助焊劑。然而,在返修中,經(jīng)常出現(xiàn)BGA錫球橋接現(xiàn)象,從返修工藝角度出發(fā),這種現(xiàn)象與助焊劑涂敷的方法和涂敷量之間勢(shì)必存在某種聯(lián)系,而這種聯(lián)系對(duì)BGA焊點(diǎn)高度變化、焊接質(zhì)量以及焊點(diǎn)可靠性有何影響,影響到什么程度,目前在SMT相關(guān)論壇和相關(guān)的學(xué)術(shù)期刊上也沒(méi)找到更詳細(xì)、更全面地報(bào)道。因此,本文通過(guò)試驗(yàn)對(duì)其作進(jìn)一步分析和探討。
01
試驗(yàn)設(shè)計(jì)
焊接是電子裝配中的主要工藝過(guò)程,助焊劑是焊接時(shí)使用的輔料,助焊劑的主要作用是清除焊料和被焊母材表面的氧化物,使金屬表面達(dá)到必要的清潔度。它防止焊接時(shí)表面的再次氧化,降低焊料表面張力,提高焊接性能。本次試驗(yàn)以目前生產(chǎn)中常用的Sn3Ag0.5Cu(熔點(diǎn)為217~220℃)無(wú)鉛錫球和無(wú)鉛助焊劑作為研究對(duì)象,同時(shí)以助焊劑的涂敷方式與涂敷量、錫球間距以及焊盤(pán)直徑作為試驗(yàn)因素,有針對(duì)性地分批試驗(yàn)。試驗(yàn)?zāi)康闹饕疾熘竸┑耐糠蠓绞胶屯糠罅繉?duì)BGA焊點(diǎn)高度、焊接質(zhì)量及可靠性的影響。 試驗(yàn)方法:采用模板(方式2)和手工(方式1)兩種涂敷方式直接將助焊劑涂敷在基板上,BGA的錫球選用直徑為0.76mm的Sn3Ag0.5Cu焊球,節(jié)距為1.50mm,焊盤(pán)直徑為0.8mm,試驗(yàn)主要設(shè)備使用IR550A型返修臺(tái)、微型光學(xué)檢測(cè)儀和剪切設(shè)備。 第一類(lèi)方式是從BGA返修工藝角度考慮,試驗(yàn)在同一回流溫度曲線下進(jìn)行,即在液相線時(shí)間不超過(guò)90s,回流峰值溫度在245℃時(shí)進(jìn)行。助焊劑采用手工直接涂敷方式,經(jīng)過(guò)四次試驗(yàn),得到如圖1所示的試驗(yàn)結(jié)果。結(jié)果表明,用手工在基板上直接涂敷助焊劑時(shí),由于助焊劑涂層厚度無(wú)法控制而造成涂敷量不均,回流后助焊劑涂敷量偏大的區(qū)域容易產(chǎn)生焊點(diǎn)橋接現(xiàn)象。
圖1 手工涂敷助焊劑對(duì)應(yīng)試驗(yàn)結(jié)果
第二類(lèi)方式是采用模板對(duì)助焊劑的涂敷量進(jìn)行控制。使用不同厚度模板對(duì)助焊劑涂敷量進(jìn)行控制,結(jié)果表明,采用模板可使助焊劑涂敷厚度比較均勻,經(jīng)回流后沒(méi)有發(fā)現(xiàn)焊點(diǎn)橋接現(xiàn)象,如圖2所示,返修質(zhì)量比較穩(wěn)定。但隨著試驗(yàn)參數(shù)的改變,焊盤(pán)陣列的間距越小對(duì)助焊劑涂敷量就越敏感(間距0.08mm時(shí)開(kāi)始出現(xiàn)橋接),助焊劑涂敷量越大,越容易導(dǎo)致焊點(diǎn)橋接,如圖3所示。使用該方法的優(yōu)點(diǎn),可通過(guò)改變模板厚度和開(kāi)口直徑來(lái)改變助焊劑的涂敷量,從而提高了焊點(diǎn)的焊接質(zhì)量。
02
焊點(diǎn)高度分析
組裝過(guò)程中,常存在因共晶錫球塌陷不足而產(chǎn)生焊點(diǎn)開(kāi)路時(shí)效。試驗(yàn)的主要目的是分析不同工藝條件下回流后焊球高度變化情況。試驗(yàn)時(shí),主要考察回流曲線的峰值溫度、焊盤(pán)直徑和助焊劑涂敷量以及它們之間的交互作用對(duì)回流后焊球高度的影響。 對(duì)試驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行L8(27)正交表設(shè)計(jì),同時(shí)對(duì)沿著每個(gè)已完成植球的BGA器件的對(duì)角線取16個(gè)焊點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量,測(cè)量方法如圖4所示。之后,取其平均值進(jìn)行極差分析和方差分析。表1的極差分析結(jié)果來(lái)看,回流峰值溫度對(duì)焊球高度的影響遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于其他因素以及各因素之間的交互作用;表2的方差分析結(jié)果表明,在95%的置信水平上,峰值溫度對(duì)焊球高度的影響是最顯著的,而其他因素以及各因素之間的交互作用對(duì)焊球高度的影響均不顯著。
圖4 焊球高度測(cè)量方法
綜上所述,回流曲線的峰值溫度是影響焊球高度的決定性因素,焊盤(pán)直徑和助焊劑涂敷量對(duì)焊球高度的影響不大。從可靠性的角度考慮,BGA器件在熱循環(huán)過(guò)程中,由于封裝體與PCB板之間存在熱膨脹系數(shù)不匹配,導(dǎo)致其焊點(diǎn)上存在切應(yīng)力,而增加焊點(diǎn)高度有利于減小焊點(diǎn)上的切應(yīng)力,所以在返修過(guò)程中,應(yīng)嚴(yán)格控制BGA的焊點(diǎn)高度。
焊點(diǎn)剪切強(qiáng)度試驗(yàn)
BGA封裝元器件的焊點(diǎn)常常由于熱失配、器件裝配外力等原因發(fā)生剪切破壞,良好的焊點(diǎn)剪切強(qiáng)度是器件高可靠性的重要保障,BGA焊點(diǎn)剪切強(qiáng)度與焊球材料和焊盤(pán)金屬有關(guān)。從微觀上看,焊接界面材料微觀結(jié)構(gòu)的變化將直接影響焊點(diǎn)剪切強(qiáng)度的大小。本文主要對(duì)不同工藝條件下完成回流后的BGA焊點(diǎn)作剪切強(qiáng)度試驗(yàn)。試驗(yàn)中,主要考慮在液相線時(shí)間不超過(guò)90s時(shí),回流峰值溫度和助焊劑模板類(lèi)型對(duì)焊接強(qiáng)度的影響,剪切強(qiáng)度試驗(yàn)原理如圖5所示,剪斷焊點(diǎn)時(shí)所需的力試驗(yàn)結(jié)果如圖6折線圖所示。
由圖6可知,方案1中焊球的剪切力最小,只有1.0cN左右,部分焊點(diǎn)承受的剪切力小于1.0cN。根據(jù)BGA無(wú)鉛焊點(diǎn)剪切試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn),BGA無(wú)鉛焊點(diǎn)所承受的剪切力至少在1.0cN以上,最好能達(dá)到1.3cN以上,所以方案1不可取。
方案2中焊球的剪切力均大于1.4cN力,其中大部分在1.5cN力以上,回流時(shí)其峰值溫度為245℃,從焊點(diǎn)高度方面考慮,低的峰值溫度有利于獲得較理想的焊球高度,從焊接強(qiáng)度的角度來(lái)看,方案2是可取的。方案3和方案4中焊球的剪切力均在1.8cN以上,從焊接強(qiáng)度的角度來(lái)考慮,是比較理想的選擇對(duì)象,但方案3和方案4回流的峰值溫度是260℃,與方案2相比,其焊接后的焊球高度相對(duì)較低。在兼顧焊接強(qiáng)度和焊球高度的情況下,方案3和方案4的競(jìng)爭(zhēng)力稍差。綜上,方案2是一個(gè)較優(yōu)的方案,既能滿足焊接強(qiáng)度的要求,又能得到較理想的焊球高度。
研究結(jié)果表明,助焊劑涂敷量對(duì)焊球回流后強(qiáng)度的影響在回流峰值溫度較低時(shí)(如245℃)比較明顯,在確保正常焊接的前提下,助焊劑涂敷量較少時(shí)焊接強(qiáng)度較大;而當(dāng)回流峰值溫度較高時(shí)(如260℃),這種影響不明顯。
0
結(jié)論
研究表明,通過(guò)使用模板控制助焊劑的涂敷量,能夠消除橋接和助焊劑涂敷不均等缺陷。在焊球直徑相同的條件下,焊球間距較小的陣列對(duì)助焊劑涂敷量的變化更敏感。極差分析表明,若以回流后影響焊點(diǎn)高度因素的重要性,按從大到小排序,為回流曲線的峰值溫度、助焊劑涂敷量、焊盤(pán)直徑;方差分析表明,在95%的置信水平上,回流曲線的峰值溫度對(duì)回流后焊球高度的影響顯著。焊球剪切試驗(yàn)表明,回流峰值溫度較低時(shí)(如245℃),助焊劑涂敷量對(duì)焊接強(qiáng)度的影響比較明顯,而當(dāng)回流峰值溫度較高時(shí)(如260℃),影響不明顯。
免責(zé)申明:本文內(nèi)容轉(zhuǎn)自: SMT技術(shù)網(wǎng);作者:韋荔甫 李鵬。文字、素材、圖片版權(quán)等內(nèi)容屬于原作者,本站轉(zhuǎn)載內(nèi)容僅供大家分享學(xué)習(xí)。如果侵害了原著作人的合法權(quán)益,請(qǐng)及時(shí)與我們聯(lián)系,我們會(huì)安排刪除相關(guān)內(nèi)容。本文內(nèi)容為原作者觀點(diǎn),并不代表我們贊同其觀點(diǎn)和(或)對(duì)其真實(shí)性負(fù)責(zé)。
先藝電子、XianYi、先藝、金錫焊片、Au80Sn20焊片、Solder Preform、芯片封裝焊片供應(yīng)商、芯片封裝焊片生產(chǎn)廠家、光伏焊帶、銀基釬料、助焊膏、高溫助焊劑、高溫焊錫膏、flux paste、陶瓷絕緣子封裝、氣密性封裝、激光器巴條封裝、熱沉、heatsink、IGBT大功率器件封裝、光電子器件封裝、MEMS器件封裝、預(yù)成型錫片、納米銀、納米銀膏、微納連接技術(shù)、AuSn Alloy、TO-CAN封裝、低溫焊錫膏、噴印錫膏、銀焊膏、銀膠、銀漿、燒結(jié)銀、低溫銀膠、銀燒結(jié)、silver sinter paste、Ceramic submount、低溫共晶焊料、低溫合金預(yù)成形焊片、Eutectic Solder、低溫釬焊片、金錫Au80Sn20焊料片、銦In合金焊料片、In97Ag3焊片、錫銀銅SAC焊料片、錫銻Sn90Sb10焊料片、錫鉛Sn63Pb37焊料片、金錫Au80Sn20預(yù)成形焊片、Au80Sn20 Solder Preform、大功率LED芯片封裝焊片生產(chǎn)廠家、TO封帽封裝焊片、In52Sn48、銦銀合金焊片、純銦焊片供應(yīng)商、銦In合金預(yù)成形焊片、錫銀銅SAC305(Sn96.5Ag3.0Cu0.5)焊片、錫銀銅預(yù)成形焊片焊箔供應(yīng)商、錫銻焊片、Sn90Sb10 Solder Preforms、錫鉛焊片、錫鉛Sn63Pb37焊片供應(yīng)商、錫鉛Sn63Pb37焊片生產(chǎn)廠家、錫鉛預(yù)成形焊片、金錫合金焊片選型指南、低溫合金焊片應(yīng)用、低溫合金焊片如何選擇、預(yù)成形焊片尺寸選擇、xianyi electronic、半導(dǎo)體芯片封裝焊片、光電成像器件的蓋板密封焊接、無(wú)助焊劑焊片、圓環(huán)預(yù)成形焊片、方框預(yù)成形焊片、金屬化光纖連接焊片、金基焊料、金鍺焊料、金硅焊料、器件封裝焊料、預(yù)涂助焊劑、帶助焊劑焊片、金錫助焊劑、共晶助焊膏、預(yù)置焊片、金錫封裝、箔狀焊片、預(yù)制焊錫片、預(yù)鍍金錫、預(yù)涂金錫
廣州先藝電子科技有限公司是先進(jìn)半導(dǎo)體連接材料制造商、電子封裝解決方案提供商,我們可根據(jù)客戶(hù)的要求定制專(zhuān)業(yè)配比的金、銀、銅、錫、銦等焊料合金,加工成預(yù)成形焊片,提供微電子封裝互連材料、微電子封裝互連器件和第三代功率半導(dǎo)體封裝材料系列產(chǎn)品,更多資訊請(qǐng)看85737.com.cn,或關(guān)注微信公眾號(hào)“先藝電子”。